电阻器的使用有很多是需要〒我们注意的点，就比如导电材料在使用过程中的变化所引起的一些不可预估情况，所以我们需要清楚导电材料的结构变化一般受哪些因素的影响，下面就带大家了解Ψ一下!

　　注意：导电材料的结构变化

　　薄膜电阻的导电膜一般采用气相沉积的方法【获得，并且在一定程度上存在非晶态结构。从热力学的观点来看，非晶态结构倾向于结晶。在工作或环▲境条件下，导电膜中的非晶结构趋向于以一定速度结晶，即导电材料的内部结构趋向于致密化，这通常会导』致电阻值降低。结晶㊣　速率随温度的升高而增加。

　　电阻丝▆或电阻膜在制备过程中会承受机械应力，导⌒　致其内部结构变形。金属丝直径越小或薄膜越薄，应力▓效应越显著。一般情况下，通过热处理可以消除内应力，在长期使用过程中，残∮余内应力可以逐渐消除，电阻器的电阻值也会随之变化。

　　结晶过程和内应力消除过程都随着时间的推移而≡减慢，但在使用电阻器的过程中不可能终止。可以认为，在电阻器工作□　期间，这两个过程以近似恒定的速度进行。与它们相关的阻力变化占原始阻力的千分之几。

　　电气负载◥的高温老化：在任何情况下，电气负载都会¤加速电阻器的老化过程，电气负载对电阻器老化的加速作用比温度升▂高的作用更为显著，因为电阻器和↑引线帽之间接触部分的卐温升超过电阻器的平均温升。一般情况下，温度每升高10℃，使用寿命缩短一半∩。如果过载导致电阻器在额定负载下温升超过50℃，电阻器的使用寿命仅为正常情况下的1/32。电阻器在10年内的工作稳定性可通过不到4个月的加速寿命试验＠ 进行评估。

　　直流负载-电解：在直流负载下∏，电解导致电阻▼器老化。电解发生在槽电阻槽中。电阻矩阵中包含的碱金属离子在槽之间的电场中◆发生位移，从而产生离子电流。在有水分的←情况下，电解过程更为激烈。如果电阻︻膜是碳膜或金属膜，则主要是电解氧化;如果电阻膜是金∑属氧化物膜，则主要是电解还原。对于高电阻薄膜电阻器，由于电解，电阻值√可能会增加，并且沿着螺旋槽的一侧可能会ぷ发生薄膜损坏。湿热环境下的直流负载试验可以综合评价电阻基体材料和薄膜的抗氧化性或抗还原▃性，以及保护层的防潮性能。那么以上●就是对于电阻器导电材料的结构变化影响因素的解析了，希望对于大家有所帮助!